背景介绍

今天带给大家的是如何对晶粒进行分析统计，所用的软件是Nano Measurer和Origin 9.0，并附软件简单的安装及使用教程，希望对大家有所帮助！

01

解压安装包，运行Nano Measurer

02

选择安装语言

03

一直点击下一步安装

04

直到整个软件安装完成

使用教程

01

运行Nano Measurer 1.2软件，打开需要统计的SEM图片（Jpg格式），首先设置标尺，如图

02

在对颗粒进行标记统计，至少需要50个数据及以上

03

然后点击报告，将数据生成txt文件，保存在桌面以方便查找

04

打开Origin作图软件，将txt数据复制到Origin中，注意，只要数值

05

选中Y轴，点击菜单栏Statistics/Descriptive Statistics/Frequency Counts/Open Dialog

06

点击OK

07

选中Count(Y)，使数据生成柱状图（Column）

08

对柱状图进行正态分布拟合：

点击菜单栏Analysis/Fitting/Nonlinear Curve Fit/Open Dialog

09

点击Function 的对话框的下三角标，选中Gauss

10

再点击Fit进行拟合

11

再对原始数据进行求取平均值和标准差

12

选中Y轴，点击菜单栏Statistics/Descriptive Statistics/Statistics on Columns/Open Dialog

13

点击OK，得到平均值和标准差

14

对图像进行处理，即可得到我们想要的图像

转自： 科研绝技

如有侵权，请联系本站删除！